(Cu)المطعمة بالنحاس ( NIO)دراسة الخصائص التركيبية والبصرية لأغشية أكسيد النيكل
No Thumbnail Available
Date
2018-06-09
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
University of eloued جامعة الوادي
Abstract
في هذه الدراسة تم تحضير أغشية رقيقة من أكسيد النيكل (NiO) النقي والمطعم بالنحاس (Cu) مرسبة على ركائز زجاجية عند درجة حرارة (400 °C) بتقنية الانحلال الكيميائي الحراري. درست الخصائص البنيوية والضوئية والكهربائية للأغشية (NiO) النقية والمطعمة بالنحاس بنسب تطعيم %(3-6-9-12). قد بينت نتائج انعراج الأشعة السينية أن الأغشية المحضرة ذات تركيب بلوري CFCباتجاه سائد (111). كما أوضحت نتائج فحوصات (FTIR) بروز الرابطتين الكيميائيتين (Ni-O) و(Cu-O) اللتين تظهران في نطاق الترددات (Cm-1500-400). ومن جهة أخرى ظهر تزايد ملحوظ للنفاذية الضوئية عند التطعيم وصل إلى (%94)، وكانت قيم الفاصل الطاقي للأغشية النقية في حدود (3.61 eV) لكنها قلتبعد التطعيم إذ تراوحت بين (3.40–3.58 eV). أما المقاومة السطحية فقد شهدت انخفاضا واضحا بعد التطعيم مما أدى إلى ارتفاع الناقلية.In this study, pure and copper doped NiO thin films were prepared anddeposited on glass substrates at 400°C. by the chemical pyrolytic spray technique. The structural, optical, and electrical properties of pure and copper doped NiO thin films were studied with percentages of doping (3-6-9-12)%. The diffraction results of the X-rays showed that the preparing films had a fcc structure and a ominant direction (111). The results of the FTIR also showed the emergence of the two chemical bonds (Ni-O and Cu-O) that appear in the frequency band (400-500 Cm-1). On the other hand, there was a significant increase in optical transmittance reaching about (94%) after doping. The energy gap values of the pure thin films were 3.61 eV, But after the doping, it has decreased and ranged between 3.58 - 3.40 eV. The Surface resistance decreased significantly after doping, leading to increased conductivity..
Description
مذكرة ماستر تخصص فيزياء
Keywords
أغشية رقيقة، أكسيد النيكل، تقنية الانحلال الكيميائي الحراري، إنعراج الأشعة السينية، التحليل الطيفي بالأشعة تحت الحمراء (FTIR)., Thin films, nickel oxide, chemical pyrolytic spray technique, X-ray diffraction, infrared spectroscopy (FTIR).