Effet Du Coefficient De Réflexion Et De La Profonde De Jonction Sur Les Caractéristiques électriques D’une Photopile Au Silicium Monocristallin.

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dc.contributor.authorChenoufi, Hakim
dc.date.accessioned2020-04-28T10:11:33Z
dc.date.available2020-04-28T10:11:33Z
dc.date.issued2007-07-01
dc.descriptionمقال بمجلة البحوث والدراساتen_US
dc.description.abstractتأثير معامل الانعكاس وعمق طبقة التنشيط على الخصائص الكهربائية لبطارية شمسية مصنوعة من السيلسيوم الأحادي البلورات تهدف هذه الورقة إلى عرض مدى تأثير معامل الانعكاس وكذا عمق طبقة التنشيط على الخصائص الكهربائية لبطارية شمسية . وإن دراسة تأثير معامل الانعكاس ترتكز على عبارة حسابية اقترحناها لتمثيل الانعكاس . Résumé : Cet article a pour intention de présenter l’influence du coefficient de réflexion et de la profondeur de jonction sur les caractéristiques électriques d’une photopile. L’étude de l’influence du coefficient de réflexion se base sur une expression algébrique qu’on a proposée pour modéliser la réflexion.en_US
dc.identifier.citationمقال بمجلة البحوث والدراساتen_US
dc.identifier.issn1112-4938
dc.identifier.urihttp://dspace.univ-eloued.dz/handle/123456789/6118
dc.language.isofren_US
dc.publisherUniversity of Eloued جامعة الواديen_US
dc.subjectphotopile, coefficient de réflexion, profondeur de jonction, irradiance spectrale, diffusionen_US
dc.titleEffet Du Coefficient De Réflexion Et De La Profonde De Jonction Sur Les Caractéristiques électriques D’une Photopile Au Silicium Monocristallin.en_US
dc.typeArticleen_US

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JRS_Vol 04 N 02