Repository logo
Communities & Collections
All of DSpace
  • English
  • العربية
  • বাংলা
  • Català
  • Čeština
  • Deutsch
  • Ελληνικά
  • Español
  • Suomi
  • Français
  • Gàidhlig
  • हिंदी
  • Magyar
  • Italiano
  • Қазақ
  • Latviešu
  • Nederlands
  • Polski
  • Português
  • Português do Brasil
  • Srpski (lat)
  • Српски
  • Svenska
  • Türkçe
  • Yкраї́нська
  • Tiếng Việt
Log In
New user? Click here to register. Have you forgotten your password?
  1. Home
  2. Browse by Author

Browsing by Author "Chenoufi, Hakim"

Filter results by typing the first few letters
Now showing 1 - 1 of 1
  • Results Per Page
  • Sort Options
  • Loading...
    Thumbnail Image
    Item
    Effet Du Coefficient De Réflexion Et De La Profonde De Jonction Sur Les Caractéristiques électriques D’une Photopile Au Silicium Monocristallin.
    (University of Eloued جامعة الوادي, 2007-07-01) Chenoufi, Hakim
    تأثير معامل الانعكاس وعمق طبقة التنشيط على الخصائص الكهربائية لبطارية شمسية مصنوعة من السيلسيوم الأحادي البلورات تهدف هذه الورقة إلى عرض مدى تأثير معامل الانعكاس وكذا عمق طبقة التنشيط على الخصائص الكهربائية لبطارية شمسية . وإن دراسة تأثير معامل الانعكاس ترتكز على عبارة حسابية اقترحناها لتمثيل الانعكاس . Résumé : Cet article a pour intention de présenter l’influence du coefficient de réflexion et de la profondeur de jonction sur les caractéristiques électriques d’une photopile. L’étude de l’influence du coefficient de réflexion se base sur une expression algébrique qu’on a proposée pour modéliser la réflexion.

DSpace software copyright © 2002-2025 LYRASIS

  • Privacy policy
  • End User Agreement
  • Send Feedback