JRS_Vol 04 N 02
Permanent URI for this collectionhttps://archives.univ-eloued.dz/handle/123456789/6103
Browse
Browsing JRS_Vol 04 N 02 by Author "Chenoufi, Hakim"
Now showing 1 - 1 of 1
- Results Per Page
- Sort Options
Item Effet Du Coefficient De Réflexion Et De La Profonde De Jonction Sur Les Caractéristiques électriques D’une Photopile Au Silicium Monocristallin.(University of Eloued جامعة الوادي, 2007-07-01) Chenoufi, Hakimتأثير معامل الانعكاس وعمق طبقة التنشيط على الخصائص الكهربائية لبطارية شمسية مصنوعة من السيلسيوم الأحادي البلورات تهدف هذه الورقة إلى عرض مدى تأثير معامل الانعكاس وكذا عمق طبقة التنشيط على الخصائص الكهربائية لبطارية شمسية . وإن دراسة تأثير معامل الانعكاس ترتكز على عبارة حسابية اقترحناها لتمثيل الانعكاس . Résumé : Cet article a pour intention de présenter l’influence du coefficient de réflexion et de la profondeur de jonction sur les caractéristiques électriques d’une photopile. L’étude de l’influence du coefficient de réflexion se base sur une expression algébrique qu’on a proposée pour modéliser la réflexion.