CARACTÉRISATIONS OPTIQUES ET OPTO-ÉLECTRONIQUES DE COUCHES MINCES DE SILICIUM AMORPHE HYDROGÉNÉ
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Date
2018-02-05
Journal Title
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Publisher
University of Eloued جامعة الوادي
Abstract
Notre travail rentre dans le cadre des caractérisations optiques et opto-électroniques
des couches minces à base de silicium amorphe hydrogéné (a-Si:H). Les couches ont été
déposées à une température de porte substrat égale à 300 °C, par pulvérisation DC assistée
d’un magnétron, sur plusieurs types de substrats compatibles avec les techniques de
caractérisations utilisées. La spectrophotométrie UV-visible-IR a permis de déterminer
l’épaisseur des couches, leur gap optique ainsi que leur indice de réfraction statique. Les
jonctions Schottky (Au/a-Si :H) ont été caractérisées par la technique surface Photo-Voltage
(SPV), qui permet d’estimer la longueur de diffusion des porteurs minoritaires, paramètre clé
pour des applications photovoltaïques. Les résultats obtenus ont montré que les films élaborés
sont photoconductreurs, et que les paramètres obtenus sont du même ordre que ceux
rencontrés dans la littérature
Description
Séminaire National Sur Laser Solaire Et Matériaux ElOeued 5-6 Février 2018
Keywords
Couches minces, photoconductivité, technique SPV, longueur de diffusion, pulvérisation cathodique en continu.