خلفاوي, فضيلة2019-05-152019-05-152018-06https://dspace.univ-eloued.dz/handle/123456789/598مدكرة ماستر تخصص فيزياءاستخدمت تقنية الرش بالانحلال الحراري لترسيب الأفلام الرقيقة لـ SnO2 النقية والمطعمة بالكوبالت (CTO) بتراكيز مختلفة [0;1]% على ركيزة زجاجية مسخنة إلى 480°C، أظهرت أطياف انعراج الأشعة X (XRD) بأن للأفلام المرسبة بنية رباعية الزوايا من نوع الروتيل، وتأخذ المستوي (200) كاتجاه مفضل للنمو، في المجال المرئي من الطيف تتراوح شفافية الأفلام من 70% إلى 80%، بينما الفجوة الطاقية لأفلام CTO تزداد من 3.984eV إلى 4.133eV مع زيادة التركيز، جميع شرائح SnO2 من النوع n وتتوافق الحركية والكثافة الكهربائيتن للالكترونات معا بينما تتعاكسان مع المقاومية الكهربائية، أظهرت صور SEM مورفولوجيا حبيبية تغطي سطح الركيزة بالكامل.Résumé : فرنسية أو انجليزية Undoped and doped SnO2 films (CTO) deposited by spray pyrolysis method onto glass substrate heated to a 480°C with different Concentrations of Cobalt [0;1]%. X-ray diffraction spectra (XRD) showed that the films deposited at different concentrations are polycrystalline with a rutile-type tetragonal, and take (200) as preferred orientation, Transparency in the visible range from 70% to 80%, however The optical band gap of the CTO films increased from 3.984eV to 4.133eV with increasing concentration, all SnO2 thin films are type n and its mobility and electrical density of electrons agree together while they are inversely proportional with resistivity, The surface morphology in the SEM images was been grainy, orderly covering the full substrate surface.Arالرش بالانحلال الحراري، الأفلام الرقيقة، كوبالت،XRD ،spray pyrolysis, thin films, Cobalt, XRD, SEMMaster